کتاب «روش‌های کاربردی مشخصه‌یابی ریزساختار مواد» منتشر شد

به گزارش خبرگزاری صداوسیما به نقل از روابط عمومی سازمان جهاد دانشگاهی تهران، مولفان این کتاب دکتر مجید بنی‌اسدی، دانشیار دانشگاه تهران و مهندس همایون صفاحی، دانشجوی دکتری دانشگاه تهران این مجموعه را در ۳۲۹ صفحه در ۱۱ فصل تألیف و گردآوری کرده‌اند.
یکی از اصلی‌ترین گلوگاه‌های ساخت فن‌آوری‌های نوین، تعیین انتخاب ماده مناسب برای کاربرد‌های مورد نظر است، امروزه مدار‌های مجتمع سخت‌افزاری، ادوات اپتیکی، سامانه‌های MEMS، NEMS جزئی از فن‌آوری‌های پرکاربرد صنعتی به‌شمار می‌روند که پیشرفت در زمینه‌های مذکور به‌طور مستقیم به دانش مار از ریز ساختار مواد و خواص بستگی دارد.

در مقدمه کتاب می‌خوانیم:
ارتباط ریز ساختار با خواص مکانیکی، گرمایی، مغناطیسی، الکتریکی و ... از جمله مباحث با اهمیت علم مواد است که سر منشأ پیدایش و ایجاد علومی نظیر فیزیک حالت جامد و میکرومکانیک بوده است. طراحی و ساخت ریز ساختار‌های کاربردی با خواص بهینه از جمله اهداف مهم بشر در آینده است که در دهه اخیر، رشد چشمگیری در تحقیقات مرتبط با کامپوزیت‌ها، نیمه‌رساناها، سرامیک‌ها و ... داشته است؛ لذا با توجه به گستردگی تحقیقات مرتبط با ریز ساختار و مشخصه‌یابی مواد، آشنایی با ددستگاه‌های اصلی پرکاربرد مشخصه‌یابی مواد، آشنایی با دستگاه‌های اصلی و پرکاربرد مشخصه‌یابی مواد برای مهندسین و محققین علوم پایه بسیار ضروری است.
در ادامه آمده است:
در کتاب حاضر، روش‌ها و دستگاه‌های پرکاربرد برای مشخصه‌یابی و آنالیز ریز ساختار مواد بررسی و مبانی نظری و کاربردی نیز در قالب مثال‌های مرتبط توضیح داده می‌شود. مبانی نظری و کاربردی نیز در قالب مثال‌های مرتبط توضیح داده می‌شود.
مبانی تئوری لازم تا حد امکان بازیابی ساده توضیح داده شده تا مخاطبان نیازی به رجوع به منابع دیگر نداشته باشند. هم‌چنین این کتاب علاوه‌بر تشریح موضوعات اساسی، موضوعات بسیاری را نیز در برمی‌گیرد که به‌صورت پراکنده در منابع مختلف وجود داشته است.
نگارش متون، بیان شیوا و قابل فهم از ویژگی‌هایی است که در تدوین این کتاب به آن توجه خاصی شده است.
در فصول ۱، ۲، ۳ و ۴ روش‌های میکروسکپی ریزساختار مواد شامل میکروسکوپ الکترونی رویشی (SEM)، پرتو یونی متمرکز (FIB)، میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و توموگرافی پرتوایکس (X- RAY TOMOGRAPHY) به تفصیل توضیح داده شده است.
در فصول ۵، ۶، ۷ و ۸ روش‌های مشخصه‌یابی پیوند‌های اتمی نظیر (FTIR) طیف‌نگاری مادون قرمز، مشخصه ۲ یابی ساختار‌های مولکولی نظیر طیف‌سنجی رزونانس مغناطیسی هسته (NMR)، ساختار کریستالی طیف‌سنجی پرتو ایکس (XRD) و در نهایت روش آنالیز عناصر سازنده نظیر طیف‌سنجی پراکندگی انرژی (EDS) بررسی می‌شود.
در فصول ۹، ۱۰ و ۱۱ ابزار‌های استفاده شده برای خواص سنجی مکانیکی نانوساختار‌ها نظیر نانو سخت‌سنجی (Nanoinodentation)، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و تست خراش (Scratch) بررسی می‌شود. تعیین خواص مکانیکی نانوساختار در مکانیک مواد بسیار با اهمیت است، زیرا کالیبراسیون روش‌های عددی و تعیین دقت به‌کار گرفته شده در محاسبات عددی بدون اندازه‌گیری خواص در ابعاد نانو مقدور نیست.

انتشارات سازمان جهاد دانشگاهی تهران نسخه کاغذی کتاب «روش‌های کاربردی مشخصه‌یابی ریزساختار مواد» را منتشر کرده است.

نسخه الکترونیکی این کتاب هم در بن‌سازه (پلتفرم) فیدیبو موجود است.